當(dāng)前位置:上海紐邁電子科技有限公司>>PQ001系列>>顆粒表面特性分析儀>> 紐邁低場(chǎng)核磁表面接枝率測(cè)定儀
納米級(jí)二氧化硅作為典型的納米顆粒材料具有分散性好,,比表面積大,親水性,、力學(xué)補(bǔ)強(qiáng)性、增稠性及防粘結(jié)性等特性,,廣泛應(yīng)用于電子封裝材料、高分子復(fù)合材料,、塑料、涂料,、橡膠,、顏料,、陶瓷、膠黏劑,、玻璃鋼,、藥物載體,、化妝品及抗菌材料、油墨等領(lǐng)域,。
二氧化硅納米顆粒表面存在大量的不同狀態(tài)的羥基不飽和殘鍵,,親水疏油,易于團(tuán)聚,,必須要對(duì)其進(jìn)行功能化改性,,以提高性能及應(yīng)用范圍,。
紐邁低場(chǎng)核磁表面接枝率測(cè)定儀是一種用于測(cè)量二氧化硅納米顆粒表面上接枝分子或聚合物的含量或密度的儀器,。它可以評(píng)估材料表面的功能化程度和接枝效果,。
紐邁低場(chǎng)核磁表面接枝率測(cè)定儀檢測(cè)原理:
LU 等科學(xué)家采用多洛倫茲分裂算法將游離 PEG 的NMR信號(hào)與接枝的 NMR信號(hào)區(qū)分開,,從而可以使用1H-NMR對(duì)接枝過程進(jìn)行原位監(jiān)測(cè)。該方法的優(yōu)點(diǎn)是不受接枝基團(tuán)末端官能團(tuán)類型,、表面化學(xué)性質(zhì)、納米粒子或組成的限制,,它還為相關(guān)科學(xué)研究提供表征納米顆粒上基團(tuán)接枝密度的關(guān)鍵和標(biāo)準(zhǔn)指南,。
低場(chǎng)核磁技術(shù)因?yàn)槠湓O(shè)備成本較低,使用簡(jiǎn)單,,適用于宏觀樣品等特性,非常適用于快速測(cè)定顆粒表面接枝率測(cè)定,。它通過MSE系列序列實(shí)現(xiàn)死時(shí)間內(nèi)的1H核磁信號(hào)采集,,最-大-程-度的采集到了接枝在顆粒表面的基團(tuán)中H原子核的信號(hào),利用外標(biāo)法進(jìn)行定量分析,。
紐邁低場(chǎng)核磁表面接枝率測(cè)定儀產(chǎn)品功能:
樣品:納米級(jí)二氧化硅
規(guī)格:可裝入10mm口徑試管,裝樣高度不超過2cm
注意事項(xiàng):樣品不得含有鐵磁性物質(zhì)
紐邁低場(chǎng)核磁表面接枝率測(cè)定儀產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):
檢測(cè)成本低
快速簡(jiǎn)單
適用于宏觀樣品等特性
無需任何專業(yè)操作員培訓(xùn)
紐邁低場(chǎng)核磁表面接枝率測(cè)定儀應(yīng)用案例:
納米顆粒表面積接枝基團(tuán)